一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。

然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質上而產生的次級 X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素 （F）到92號元素（U）。

1.X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現(xiàn)在已*成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域。

2.每個元素的特征X射線的強度除與激發(fā)源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。

3.根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。

X射線熒光分析儀的優(yōu)點：

1.對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。

2.測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。

3.分析速度較快。

4.對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。

5.不需要專業(yè)實驗室與操作人員，不引入其它對環(huán)境有害的物質。

手持式X-射線熒光光譜儀xSORT

手持式X-射線熒光光譜儀xSORT無需進行復雜的樣品制備，對復雜基體的環(huán)境類樣本提供非常快速直接的元素測量和光譜化學成分分析，可以在很短的時間內達到非常低的檢測下限，因此在現(xiàn)場測試中可以快速提供實驗室等級的測試結果。

適用于工程服務公司，政府機構、大學、企業(yè)及測試實驗室要從開發(fā)區(qū)、垃圾填埋場到軍事設施、水泥廠甚至野餐桌中取得的一切土壤、沉積物、廢棄物和廢油進行環(huán)境監(jiān)控分析。